半導體材料 選購指南
2025上海國際半導體技術大會暨展覽會|上海半導體材料展）
2025上海國際半導體技術大會暨展覽會 China International Semiconductor Technology Conference & Exhibition 2025 展會時間:2025年7月29-31日 展館地點:國家會展中心(上海虹橋) 主辦單位:中國設備管理協(xié)會 上海中展世信會展集團 承辦單位 上海國展世信會展有限公司 耀瀚（上海）展覽策劃有限公司 隨著人工智能、 智能汽車、無人機、汽車電子、安防、物聯(lián)網(wǎng)、手機、消費及穿戴電子......
防靜電尼龍板，ESD尼龍板，抗靜電NYLON板
桑鑫塑膠專注于工程塑料的銷售與研發(fā)，我們的優(yōu)勢：專用專注、質量穩(wěn)定，價格合理，顧客至上，品質保證，我們可以為廣大客戶群體，提供系列性的產(chǎn)品應用解決方案； 產(chǎn)品包裝：紙纖/氣泡膜/木架（按客戶要求包裝） 發(fā)貨方式：快遞、物流、送貨。 售后服務：全程提供技術服務支持與產(chǎn)品解決方案。 產(chǎn)品概述： 防靜電尼龍板/ESD抗靜電Nylon板是一種以尼龍為基料的填充一定比例納米碳纖維，經(jīng)高溫擠出成形的一種半導體材料，在半導體材料應用的領域表現(xiàn)出較高的性能，比較適......
BEST-300C四探針電阻率測試儀北廣精儀
Rr=V;R,/V=V/I,……… R,=V,R,/V_=V,/I,- 電阻測量范圍： 對于薄層厚度小于3μm的試樣，選用針尖半徑為 100 μm~250 μm的半球形探針或針尖率徑為50 μm～125 pm平頭探針，針尖與試樣間壓力為0.3 N~0.8Ni對于薄層厚度不小于3μ的試樣，選用針尖半徑為 35 μm~100 pm 半球形操針，針尖與試樣間壓力不大于0.3 N. 當直接測量電流時，采用式（1）、式（2）最右邊的形式。對于仲載測量，R，與R，之差的絕對值必須小于較大值的 5%。 電阻：1×10-5～2×105Ω R-——通過正向電流時試樣電阻，單......
硅材料綜合測試儀
硅料綜合測試儀HS-PSRT 本儀器是運用四探針測量原理的多功能綜合測試裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，適用于半導體及太陽能行業(yè)的篩選。 硅料綜合測試儀 - 產(chǎn)品特點 ■ 同時檢測硅半導體材料的電阻率和型號兩項指標。 ■ 儀器采用220V交流電源供電 ■ 擁有較高的電阻率測試分辨率，最小可到0.001 歐姆.厘米” ■ 能精確的分辨電阻率在0.002 歐姆.厘米以上的硅半導體材料型號 ■ 獨立的P/N 型重摻告警設置，便于工廠大規(guī)�？焖龠x料 ■ 適中的......
