測(cè)試儀
所有分類下結(jié)果便攜式戶外IV曲線測(cè)試儀 I-V曲線,P-V曲線

■主機(jī)與探頭之間采用無線連接,提供最大100米的無線通信連接功能,使您的測(cè)試更便捷、方便。
■提供擁有專利技術(shù)的探頭盒與溫度探頭安裝支架,能夠方便快速的將探頭安裝在電池板上。
■提供獨(dú)有的條碼掃描功能,實(shí)現(xiàn)組件智能識(shí)別。
■高亮、陽(yáng)光下可視彩色液晶顯示,觸摸屏加鍵盤操作,包含豐富的外設(shè)接口,提供非同一般的操作體驗(yàn)。機(jī)內(nèi)存儲(chǔ)器可存儲(chǔ)超過2000幅測(cè)試波形,并內(nèi)置SD卡插槽,支持存儲(chǔ)空間擴(kuò)容。
■采用WINCE圖形系統(tǒng),多國(guó)語言
[北京 儀器儀表]
進(jìn)口無接觸硅片測(cè)試儀
[中介]產(chǎn)品介紹
手動(dòng)硅片測(cè)試儀可以測(cè)量硅片厚度、總厚度變化TTV、彎曲度,該儀器適用于Si,GaAs,InP,Ge等幾乎所有的材料,所有的設(shè)計(jì)都符合ASTM(美國(guó)材料實(shí)驗(yàn)協(xié)會(huì))和Semi標(biāo)準(zhǔn),確保與其他工藝儀器的兼容與統(tǒng)
太陽(yáng)能電池量子效率測(cè)試儀
[中介]PH-IQE200為太陽(yáng)能電池光譜響應(yīng)測(cè)試,或稱量子效率QE(Quantum Efficiency)測(cè)試,或光電轉(zhuǎn)化效率IPCE (Monochromatic Incident Photon-to-Electron Conversion Efficiency) 測(cè)試等,廣義來說,就是測(cè)量光
藍(lán)寶石圓度測(cè)試儀
[中介]RA2000是一種操作簡(jiǎn)便的測(cè)量?jī)x,用于對(duì)工件的幾何尺寸特別是圓度進(jìn)行精確測(cè)量。此設(shè)備保證測(cè)量的準(zhǔn)確性,為產(chǎn)品品質(zhì)提供專業(yè)的保障。
無接觸體電阻率型號(hào)測(cè)試儀
[中介]產(chǎn)品介紹
HS-TRM-100型無接觸式電阻率型號(hào)測(cè)試儀是基于渦流(Eddy Current)測(cè)試技術(shù),能夠?qū)枇稀⒐璋、硅錠及硅片進(jìn)行無接觸、無損傷的體電阻率測(cè)試。
單點(diǎn)少子壽命測(cè)試儀
[中介]HS-CLT少子壽命測(cè)試儀是一款功能異常強(qiáng)大的少子壽命測(cè)試儀,不僅適用于硅片少子壽命的測(cè)量,更適用于硅塊、硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶等多種不規(guī)則形狀硅少子壽命的測(cè)量。少子測(cè)試量程從1μs到2000
硅材料綜合測(cè)試儀
[中介]硅料綜合測(cè)試儀HS-PSRT
本儀器是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多功能綜合測(cè)試裝置,它可以測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率,適用于半導(dǎo)體及太陽(yáng)能行業(yè)的篩選。
硅料綜合測(cè)試儀 - 產(chǎn)品特點(diǎn)
■ 同時(shí)檢
硅片表面線痕深度測(cè)試儀
[中介]HS-SRT-301型硅片線痕深度測(cè)試儀可用于測(cè)試硅片的表面線痕深度,具有便于攜帶、觸摸屏便捷操作、液晶顯示、節(jié)能等優(yōu)點(diǎn),同時(shí)內(nèi)置打印機(jī)和充電電池,所有設(shè)計(jì)均符合JIS,DIN,ISO,ANSI等標(biāo)準(zhǔn)。
原生多晶及硅芯型號(hào)測(cè)試儀
[中介]HS-PSTT原生多晶及硅芯型號(hào)測(cè)試儀是一款高端半導(dǎo)體材料型號(hào)測(cè)試儀器,具有大量程測(cè)試范圍的特點(diǎn),尤其適用于西門子法原生硅料生產(chǎn)企業(yè)的高阻硅料(含硅芯、檢磷棒、檢硼棒等)以及各種低阻硅料型號(hào)測(cè)量,型
半自動(dòng)硅片厚度TTV測(cè)試儀
[中介]特征
■適用于硅片等各種材料的厚度TTV精確測(cè)量
■測(cè)量范圍:0~2mm
■分辨率:0.1μm
■微電腦控制、液晶顯示
■菜單式界面、PVC面板操作
■接觸式測(cè)量
■測(cè)頭自動(dòng)升降
■手動(dòng)、自動(dòng)雙重測(cè)量模式