測試
所有分類下結(jié)果原生多晶大量程電阻率測試儀
[中介]產(chǎn)品介紹:
HS‐POSRT原生多晶電阻率測試儀是一款高端電阻率測試儀器,具有電阻率大量程及超大量程測量的特點(diǎn),實(shí)現(xiàn)了電阻率從0.0001歐姆.厘米到幾萬歐姆.厘米(可擴(kuò)展)的測試范圍,具有測量精度高、穩(wěn)
便攜式戶外IV曲線測試儀 I-V曲線,P-V曲線

■主機(jī)與探頭之間采用無線連接,提供最大100米的無線通信連接功能,使您的測試更便捷、方便。
■提供擁有專利技術(shù)的探頭盒與溫度探頭安裝支架,能夠方便快速的將探頭安裝在電池板上。
■提供獨(dú)有的條碼掃描功能,實(shí)現(xiàn)組件智能識別。
■高亮、陽光下可視彩色液晶顯示,觸摸屏加鍵盤操作,包含豐富的外設(shè)接口,提供非同一般的操作體驗(yàn)。機(jī)內(nèi)存儲器可存儲超過2000幅測試波形,并內(nèi)置SD卡插槽,支持存儲空間擴(kuò)容。
■采用WINCE圖形系統(tǒng),多國語言
[北京 儀器儀表]
進(jìn)口無接觸硅片測試儀
[中介]產(chǎn)品介紹
手動硅片測試儀可以測量硅片厚度、總厚度變化TTV、彎曲度,該儀器適用于Si,GaAs,InP,Ge等幾乎所有的材料,所有的設(shè)計(jì)都符合ASTM(美國材料實(shí)驗(yàn)協(xié)會)和Semi標(biāo)準(zhǔn),確保與其他工藝儀器的兼容與統(tǒng)
太陽能電池量子效率測試儀
[中介]PH-IQE200為太陽能電池光譜響應(yīng)測試,或稱量子效率QE(Quantum Efficiency)測試,或光電轉(zhuǎn)化效率IPCE (Monochromatic Incident Photon-to-Electron Conversion Efficiency) 測試等,廣義來說,就是測量光
無接觸硅片厚度TTV電阻率綜合測試系統(tǒng)
[中介]PV-1000系列無接觸硅片厚度TTV電阻率綜合測試系統(tǒng)為太陽能/光伏硅片及其他材料提供快速、多通道的厚度、(總厚度變化)TTV、翹曲及無接觸電阻率測量功能。并提供基于TCP/IP的數(shù)據(jù)傳輸接口及基于Windows的控
藍(lán)寶石圓度測試儀
[中介]RA2000是一種操作簡便的測量儀,用于對工件的幾何尺寸特別是圓度進(jìn)行精確測量。此設(shè)備保證測量的準(zhǔn)確性,為產(chǎn)品品質(zhì)提供專業(yè)的保障。
無接觸體電阻率型號測試儀
[中介]產(chǎn)品介紹
HS-TRM-100型無接觸式電阻率型號測試儀是基于渦流(Eddy Current)測試技術(shù),能夠?qū)枇稀⒐璋、硅錠及硅片進(jìn)行無接觸、無損傷的體電阻率測試。
太陽能光伏電池IV特性分析系統(tǒng)
[中介]太陽能光伏電池的所有性能表征手段中,IV特性測試無疑是最直觀、最有效、最被廣泛應(yīng)用的一種方法。PH-SIV100通過測量IV特性曲線,對數(shù)據(jù)分析處理,可以直接得到光伏電池的各項(xiàng)物理性能。為光伏電池的研究、
無接觸厚度TTV電阻率綜合測試系統(tǒng)
[中介]HS-T50無接觸厚度TTV電阻率綜合測試系統(tǒng)是一款廣泛應(yīng)用于太陽能電池片制造過程中對表面厚度TTV電阻率無損測量的專業(yè)儀器。該儀器適用于Si,GaAs,InP,Ge等幾乎所有的材料,所有的設(shè)計(jì)都符合ASTM(美國材料
單點(diǎn)少子壽命測試儀
[中介]HS-CLT少子壽命測試儀是一款功能異常強(qiáng)大的少子壽命測試儀,不僅適用于硅片少子壽命的測量,更適用于硅塊、硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶等多種不規(guī)則形狀硅少子壽命的測量。少子測試量程從1μs到2000