MiniTest1100/MiniTest2100/MiniTest3100/MiniTest4100 

概述： 德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/MiniTest2100/MiniTest3100/MiniTest4100涂鍍層測厚儀特點： MiniTest1100/MiniTest2100/MiniTest3100/MiniTest4100包括四種不同的主機(jī)，各自

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描述：4.0  產(chǎn)品質(zhì)量：4.0
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德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/MiniTest2100/MiniTest3100/MiniTest4100涂鍍層測厚儀特點：
MiniTest1100/MiniTest2100/MiniTest3100/MiniTest4100包括四種不同的主機(jī)，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；
- 所有型號均可配所有探頭
- 可通過RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計算機(jī)
- 可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)
MiniTest1100/MiniTest2100/MiniTest3100/MiniTest4100涂層測厚儀功能
型號 1100 2100 3100 4100
MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)) 1 1 10 99
每個應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計，可設(shè)寬容度極限值) - 1 10 99
可用各自的日期和時間標(biāo)識特性的組數(shù) - 1 500 500
數(shù)據(jù)總量 1 10000 10000 10000
MINITEST統(tǒng)計計算功能
讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar - √ √ √
讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk - - √ √
組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar - - √ √
組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk - - √ √
存儲顯示每一個應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù) - - - √
分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值 - - √ √
顯示并打印測量值、打印的日期和時間 - √ √ √
其他功能
透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC) - √ √ √
在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn) √ √ √ √
利用計算機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn) √ √ √ √
補(bǔ)償一個常數(shù)(Offset) - - √ √
外設(shè)的讀值傳輸存儲功能 - √ √ √
保護(hù)并鎖定校準(zhǔn)設(shè)置 √ √ √ √
更換電池是存儲數(shù)值 √ √ √ √
設(shè)置極限值 - - √ √
公英制轉(zhuǎn)換 √ √ √ √
連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別最大最小值 - - √ √>
連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) - - √ √>
浮點和定點方式數(shù)據(jù)傳送 √ √ √ √
組內(nèi)單值延遲顯示 - √ √ √
連續(xù)測量模式中顯示最小值 √ √ √ √

可選探頭參數(shù)(探頭圖示)
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇最適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層 
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能
探頭 量程 低端
分辨率 		誤差 最小曲率
半徑(凸/凹) 		最小測量
區(qū)域直徑 		最小基
體厚度 		探頭尺寸
F05 0-500μm 0.1μm ±(1%+0.7μm) 1/5mm 3mm 0.2mm φ15x62mm
F1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm
F1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 平面/6mm 5mm 0.5mm φ8x170mm
F3 0-3000μm 0.2μm ±(1%+1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm
F10 0-10mm 5μm ±(1%+10μm) 5/16mm 20mm 1mm φ25x46mm
F20 0-20mm 10μm ±(1%+10μm) 10/30mm 40mm 2mm φ40x66mm
F50 0-50mm 10μm ±(3%+50μm) 50/200mm 300mm 2mm φ45x70mm
N02 0-200μm 0.1μm ±(1%+0.5μm) 1/10mm 2mm 50μm φ16x70mm
N.08Cr 0-80μm 0.1μm ±(1%+1μm) 2.5mm 2mm 100μm φ15x62mm
N1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 1.5/10mm 2mm 50μm φ15x62mm
N1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 平面/10mm 5mm 50μm φ13x170mm
N10 0-10mm 10μm ±(1%+25μm) 25/100mm 50mm 50μm φ60x50mm
N20 0-20mm 10μm ±(1%+50μm) 25/100mm 70mm 50μm φ65x75mm
N100 0-100mm 100μm ±(1%+0.3mm) 100mm/平面 200mm 50μm φ126x155mm
CN02 10-200μm 0.2μm ±(1%+1μm) 平面 7mm 無限制 φ17x80mm
FN1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 1.5/10mm 5mm F：0.5mm
N：50μm 		φ15x62mm
FN1.6P 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 平面 30mm F：0.5mm
N：50μm 		φ21x89mm
FN2 0-2000μm 0.2μm ±(1%+1μm) 1.5/10mm 5mm F：0.5mm
N：50μm 		φ15x62mm
注： F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測量。
N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。
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