功能異常
所有分類下結(jié)果單點(diǎn)少子壽命測(cè)試儀
[中介]HS-CLT少子壽命測(cè)試儀是一款功能異常強(qiáng)大的少子壽命測(cè)試儀，不僅適用于硅片少子壽命的測(cè)量，更適用于硅塊、硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶等多種不規(guī)則形狀硅少子壽命的測(cè)量。少子測(cè)試量程從1μs到2000
無接觸少子壽命掃描儀
[中介]HS-MWR-2S-3無接觸少子壽命掃描儀是一款功能異常強(qiáng)大的無接觸少子壽命掃描儀，能夠?qū)尉Ч璋�、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測(cè)試，其通過微波光電衰退特性原理來測(cè)量非平
單點(diǎn)少子壽命測(cè)試儀
[中介]HS-CLT少子壽命測(cè)試儀是一款功能異常強(qiáng)大的少子壽命測(cè)試儀，不僅適用于硅片少子壽命的測(cè)量，更適用于硅塊、硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶等多種不規(guī)則形狀硅少子壽命的測(cè)量。少子測(cè)試量程從1μs到2000
無接觸少子壽命掃描儀
[中介]HS-MWR-2S-3無接觸少子壽命掃描儀是一款功能異常強(qiáng)大的無接觸少子壽命掃描儀，能夠?qū)尉Ч璋�、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測(cè)試，其通過微波光電衰退特性原理來測(cè)量非平
